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產(chǎn)品名稱：瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb便攜式硬度計 |
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產(chǎn)品型號：Equotip 550 Leeb |
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產(chǎn)品類別：環(huán)境檢測 >> 硬度計 >> |
瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb便攜式硬度計產(chǎn)品簡介：
探頭和沖擊體的使用壽命長，比市場上其他產(chǎn)品的使用壽命長四倍。
配備完整的探頭組合、廣泛的材料轉(zhuǎn)換表，包括Proceq自己的研究和世界上廣泛的標準轉(zhuǎn)換。
通過強大的內(nèi)置報告功能，以及完全可定制的視圖、多個向?qū)Ш筒牧线x擇助手，隨時可用的報告。
瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb便攜式硬度計產(chǎn)品應用：
鑄件、法蘭、軸和棒材
管材的硬度測試
近線質(zhì)量控制
熱處理表面
瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb便攜式硬度計技術(shù)參數(shù)：
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傳感器/儀表 |
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PC軟件 |
Equotip Link允許直接報告和自定義報告 |
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內(nèi)存 |
內(nèi)部8GB閃存（>1000000次測量） |
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顯示 |
帶雙核處理器的7"彩色堅固觸摸屏單元（800×480像素） |
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本機規(guī)模 |
HLx（x：D、DC、DL、S、E、G、C） |
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可用刻度 |
HB，HV，HRA，HRB，HRC，HS，MPA(σ1，σ2，σ3) |
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可用探頭 |
Leeb D/DC/DL/S/E/G/C |
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與其他方法結(jié)合 |
Portable Rockwell，UCI |
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最小非耦合試樣質(zhì)量(kg/lbs) |
15/33(Leeb G) 5/11(Leeb D，DC，DL，E，S) 1.5/3.3(Leeb C) |
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最小耦合試樣質(zhì)量(kg/lbs) |
0.5/1.1(Leeb G) 0.05/0.2(Leeb D，DC，DL，E，S) 0.02/0.045(Leeb C) |
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最小非耦合試樣厚度（mm/inch） |
70/2.73(Leeb G) 25/0.98(Leeb D，DC，DL，E，S) 15/0.59(Leeb C) |
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最小耦合試樣厚度（mm/inch） |
10/0.4(Leeb G) 3/0.12(Leeb D，DC，DL，E，S) 1/0.04(Leeb C) |
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儀器固件 |
沖擊方向自動補償 個性化用戶配置文件和視圖 集成在自動化測試環(huán)境中（包括遠程控制） 支持11種語言和時區(qū) 測量向?qū)?/span> 自定義曲線向?qū)?/span> 組合方法向?qū)?/span> 用戶指南功能 自定義報表功能 |
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自定義轉(zhuǎn)換曲線 |
支持單點偏移，2點偏移及多點偏移 |
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連接 |
USB主機/設備和以太網(wǎng) |
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根據(jù) |
ISO 16859、ASTM A 956、自定義方法、組合方法 |
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測量范圍 |
150-950HL |
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防護等級 |
IP54，完全堅固，帶有減震外殼 |
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測量精度 |
±4HL(0.5% at 800HL) |
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變異系數(shù) |
±4HL(0.5% at 800HL) |
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